发布日期:2022-02-16 21:02:28
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序号 设备编号 仪器名称 / 附件 生产国家和公司 型号 购置年份 功能介绍 设备参数 1 场发射透射电子显微镜 日本电子株式会社 JEM2100F 2005 通过各种衬度像,对材料进行形貌、晶粒尺寸等的分析;利用电子衍射、Z衬度成像等研究材料的微观组织结构和相的鉴定;利用 EELS、EDS 对样品进行成分
用途:用于精确研究材料的各种热膨胀行为。 设备采用感应式升温,最高加热温度达1600℃,最大升温速度可达100℃/s。 同时配备液氮制冷系统,低温可达150℃。
主要研究方向 科研成果 主要实验仪器设备 学风建设 学生风采 招生就业 当前位置: 首页 >> 科学研究 >> 主要实验仪器设备 >> 正文 材料分析检测设备 13:47 Zeiss SIGMA 500 场发射扫描电子显微镜 真实色共聚焦显微镜
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